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電鏡冷臺適配國儀電鏡-SEM測試實驗

更新時間:2025-04-18      點擊次數(shù):100

實驗?zāi)康?/span>

驗證文天精策冷臺與國儀量子SEM的兼容性,確保在低溫環(huán)境下(如快速冷凍蛋糕油樣品)能夠保持樣品微觀結(jié)構(gòu)的完整性,并通過SEM成像清晰觀測其形貌特征。同時,評估冷熱臺在變溫測試中的性能(如溫控精度、穩(wěn)定性等),為后續(xù)材料相變微觀表征提供可靠的原位測試條件。

實驗設(shè)備

文天精策冷臺、國儀量子SEM

電鏡冷臺適配國儀電鏡-SEM測試實驗電鏡冷臺適配國儀電鏡-SEM測試實驗

實驗方法

將蛋糕油樣品放入冷臺快速冷凍,以保持其微觀結(jié)構(gòu)完整性;然后啟動真空系統(tǒng),先抽至高真空(<1Pa)去除殘留氣體和水分,再調(diào)節(jié)至30Pa低真空模式;待真空度和溫度穩(wěn)定后,即可開始SEM觀測。

實驗結(jié)果

兼容性驗證成功:文天精策冷臺與國儀量子SEM系統(tǒng)兼容,冷臺在SEM真空環(huán)境下運行穩(wěn)定,未干擾電子光學系統(tǒng)或成像質(zhì)量

成像效果:低真空模式(30Pa)下SEM圖像對比度高,滿足含水/油脂樣品的觀測需求。

電鏡冷臺適配國儀電鏡-SEM測試實驗

電鏡冷臺適配國儀電鏡-SEM測試實驗

結(jié)論:該冷熱臺適配SEM的方案適用于熱敏感材料(如食品、生物樣品)的原位低溫表征,為后續(xù)相變研究提供了可靠技術(shù)支撐。

設(shè)備優(yōu)勢

SEM原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡(SEM)標準樣品臺上(無需改造電鏡內(nèi)部),提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫,穩(wěn)定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍:-190~50℃ / -190~200℃,滿足原位高低溫材料相變微觀表征。可根據(jù)客戶需求定制

選購參數(shù)

電鏡冷臺適配國儀電鏡-SEM測試實驗

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